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    硅油涂布量檢測儀EDX-3500

    硅油涂布量檢測儀EDX-3500主要用于不干膠,離型紙,格拉辛、淋膜紙、PET薄膜、牛皮紙等多種硅油涂布量的快速分析,可廣泛應用于硅油涂布行業(yè)產(chǎn)品工藝及成本的管理。
    訪(fǎng)問(wèn)次數: 2345
    廠(chǎng)商性質(zhì): 生產(chǎn)廠(chǎng)家
    產(chǎn)品時(shí)間: 2022-08-31

    產(chǎn)品概述

    一、產(chǎn)品名稱(chēng)及型號:硅油涂布量檢測儀EDX-3500

    硅油是一種不同聚合度鏈狀結構的聚有機硅氧烷。它是由二甲基二氯硅烷加水水解制得初縮聚環(huán)體,環(huán)體經(jīng)裂解、精餾制得低環(huán)體,然后把環(huán)體、封頭劑、催化劑放在一起調聚就可得到各種不同聚合度的混合物,經(jīng)減壓蒸餾除去低沸物就可制得硅油。常用的硅油,有機基團全部為甲基,稱(chēng)甲基硅油。近年來(lái),有機改性硅油得到迅速發(fā)展,出現了許多具有特種性能的有機改性硅油。硅油具有很好的耐熱性、電絕緣性、耐候性、疏水性、生理惰性和較小的表面張力,此外還具有低的粘溫系數、較高的抗壓縮性)有的品種還具有耐輻射的性能。

    離型膜的硅涂布量是生產(chǎn)過(guò)程中質(zhì)量控制的一個(gè)重要方面,涂覆太多,則影響成本。涂覆太少,則粘合層將地粘在基底上。硅油涂布量檢測儀EDX-3500利用x射線(xiàn)熒光光譜分析技術(shù)原理對表面涂布硅含量檢測來(lái)達到涂布量的生產(chǎn)過(guò)程控制,是一種經(jīng)濟有效的手段。

     

    二、測

    通過(guò)軟件程序控制,讓 X 射線(xiàn)發(fā)生路產(chǎn)生適合的 X 射線(xiàn)去激發(fā)測試薄膜材料中的 Si 或者其他元素,被 X 射線(xiàn)激發(fā)后變?yōu)椴?穩定態(tài),高能層的電子會(huì )躍遷到空穴并同時(shí)釋放特定能量被探測器接收,因每個(gè)元素都有自已特定的能量特征線(xiàn),通過(guò)探測器的識別,計算機軟件的計算,即可準確識別該元素,并計算出含量。

    儀器采用了大面積的晶體硅漂移探測器,分辨率能夠達到 125eV, 能分辨Al(鋁)元素和 Si(硅) 元素。

    三、技 術(shù) 點(diǎn)

    · 測試采用X射線(xiàn)熒光光譜原理,測試過(guò)程無(wú)需耗材

    · 光管垂直照射,硅元素性能得到更強激發(fā)

    · 測試下限好,可準確測量 0.01g/m2 的涂硅量

    · 采用大面積硅漂移探測器,測試結果極其準確

    · 快速采用新的模型算法,大大提高了輕元素的測量穩定性

    · 配置高清液晶顯示器,測試過(guò)程和測試結果一目了然

    · 設備集成多個(gè) usb 接口 , 數據和通訊傳輸滿(mǎn)足多種要求

    · 空氣光路內部環(huán)境得到顯著(zhù)優(yōu)化,大氣環(huán)境一樣可以直接測試

    · 一鍵測試 / 操作簡(jiǎn)單智能,測試過(guò)程使用時(shí)間更短,結果更準確

    四、技 術(shù)

    分析范圍:1ppm~100%

    精度:RSD≤0.05%  Au≥90%

    光管管流:0-1000uA

    探測器:美國進(jìn)口Amptek探測器SDD

    高壓電源:0-50KV

    光管電壓:5-50KV/可選進(jìn)口光管

    分辨率:129±5ev

    測試時(shí)間:30-100s

    五、產(chǎn) 優(yōu)

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    六、應 領(lǐng)

    各種薄膜、淋膜、離型膜等硅油涂布量的測定

    各種薄膜生產(chǎn)過(guò)程中Si/Al元素等比量的測定

    電子產(chǎn)品保護膜硅油殘余量的測定

    電子產(chǎn)品硫化物的殘留量的測定

    離型劑研發(fā)過(guò)程中的應用

    1. 通過(guò)測試涂布量,探索離型涂層的離型力與涂布量的關(guān)系

    2. 借助硅涂布量測試儀,可以測試離型涂層的萃取率,研究離型劑產(chǎn)品的固化情況

    3. 控制某一個(gè)確定的涂布量值,探索其他因素對離型涂層性能的影響

    4. 有機硅離型劑出廠(chǎng)前的檢測以及客戶(hù)涂布的離型劑紙(膜)的質(zhì)量監測

    硅油涂布量檢測儀EDX-3500

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