硅油涂布量檢測儀EDX-3500

一、產(chǎn)品名稱(chēng)及型號：硅油涂布量檢測儀EDX-3500

硅油是一種不同聚合度鏈狀結構的聚有機硅氧烷。它是由二甲基二氯硅烷加水水解制得初縮聚環(huán)體，環(huán)體經(jīng)裂解、精餾制得低環(huán)體，然后把環(huán)體、封頭劑、催化劑放在一起調聚就可得到各種不同聚合度的混合物，經(jīng)減壓蒸餾除去低沸物就可制得硅油。常用的硅油，有機基團全部為甲基，稱(chēng)甲基硅油。近年來(lái)，有機改性硅油得到迅速發(fā)展，出現了許多具有特種性能的有機改性硅油。硅油具有很好的耐熱性、電絕緣性、耐候性、疏水性、生理惰性和較小的表面張力，此外還具有低的粘溫系數、較高的抗壓縮性）有的品種還具有耐輻射的性能。

離型膜的硅涂布量是生產(chǎn)過(guò)程中質(zhì)量控制的一個(gè)重要方面，涂覆太多，則影響成本。涂覆太少，則粘合層將地粘在基底上。硅油涂布量檢測儀EDX-3500利用x射線(xiàn)熒光光譜分析技術(shù)原理對表面涂布硅含量檢測來(lái)達到涂布量的生產(chǎn)過(guò)程控制，是一種經(jīng)濟有效的手段。

二、測 試 原 理

通過(guò)軟件程序控制，讓 X 射線(xiàn)發(fā)生路產(chǎn)生適合的 X 射線(xiàn)去激發(fā)測試薄膜材料中的 Si 或者其他元素，被 X 射線(xiàn)激發(fā)后變?yōu)椴?穩定態(tài)，高能層的電子會(huì )躍遷到空穴并同時(shí)釋放特定能量被探測器接收，因每個(gè)元素都有自已特定的能量特征線(xiàn)，通過(guò)探測器的識別，計算機軟件的計算，即可準確識別該元素，并計算出含量。

儀器采用了大面積的晶體硅漂移探測器，分辨率能夠達到 125eV, 能分辨Al(鋁)元素和 Si(硅) 元素。

三、技 術(shù) 特 點(diǎn)

· 測試采用X射線(xiàn)熒光光譜原理，測試過(guò)程無(wú)需耗材

· 光管垂直照射，硅元素性能得到更強激發(fā)

· 測試下限好，可準確測量 0.01g/m2 的涂硅量

· 采用大面積硅漂移探測器，測試結果極其準確

· 快速采用新的模型算法，大大提高了輕元素的測量穩定性

· 配置高清液晶顯示器，測試過(guò)程和測試結果一目了然

· 設備集成多個(gè) usb 接口 , 數據和通訊傳輸滿(mǎn)足多種要求

· 空氣光路內部環(huán)境得到顯著(zhù)優(yōu)化，大氣環(huán)境一樣可以直接測試

· 一鍵測試 / 操作簡(jiǎn)單智能，測試過(guò)程使用時(shí)間更短，結果更準確

四、技 術(shù) 參 數

分析范圍：1ppm~100%

精度：RSD≤0.05%  Au≥90%

光管管流：0-1000uA

探測器：美國進(jìn)口Amptek探測器SDD

高壓電源：0-50KV

光管電壓：5-50KV/可選進(jìn)口光管

分辨率：129±5ev

測試時(shí)間：30-100s

五、產(chǎn) 品 優(yōu) 勢

六、應 用 領(lǐng) 域

各種薄膜、淋膜、離型膜等硅油涂布量的測定

各種薄膜生產(chǎn)過(guò)程中Si/Al元素等比量的測定

電子產(chǎn)品保護膜硅油殘余量的測定

電子產(chǎn)品硫化物的殘留量的測定

離型劑研發(fā)過(guò)程中的應用

1. 通過(guò)測試涂布量，探索離型涂層的離型力與涂布量的關(guān)系

2. 借助硅涂布量測試儀，可以測試離型涂層的萃取率，研究離型劑產(chǎn)品的固化情況

3. 控制某一個(gè)確定的涂布量值，探索其他因素對離型涂層性能的影響

4. 有機硅離型劑出廠(chǎng)前的檢測以及客戶(hù)涂布的離型劑紙（膜）的質(zhì)量監測

硅油涂布量檢測儀EDX-3500