Olympus手持貴金屬分析儀是一種基于XRF(XRayFluorescence，X射線(xiàn)熒光)光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，主要由X光管、探測器、CPU以及存儲器組成，由于其便攜具有高效、便攜、準確等特點(diǎn)，使其在合金、礦石、環(huán)境、消費品等領(lǐng)域有著(zhù)重要的應用。
該儀器要求具有高的分辨率和信噪比、更好的強度準確性和波長(cháng)準確性以及強的抗外界干擾性和優(yōu)良的儀器穩定性，在儀器的軟件上，要求能夠進(jìn)行導數、去卷積等復雜的數學(xué)計算，能夠計算光譜間相似度、模式識別分析、支持多元校正分析和用戶(hù)自建譜庫并進(jìn)行檢索。
Olympus手持貴金屬分析儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線(xiàn)與原子發(fā)生碰撞時(shí)，驅逐一個(gè)內層電子從而出現一個(gè)空穴，使整個(gè)原子體系處于不穩定的狀態(tài)，當較外層的電子躍遷到空穴時(shí)，產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級光電子，發(fā)生俄歇效應，亦稱(chēng)次級光電效應或無(wú)輻射效應。
所逐出的次級光電子稱(chēng)為俄歇電子。當較外層的電子躍入內層空穴所釋放的能量不被原子內吸收，而是以光子形式放出，便產(chǎn)生X射線(xiàn)熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。因此，射線(xiàn)熒光的能量或波長(cháng)是特征性的，與元素有一一對應的關(guān)系。
由Moseley定律可知，只要測出熒光X射線(xiàn)的波長(cháng)，就可以知道元素的種類(lèi)，這就是熒光X射線(xiàn)定性分析的基礎。此外，熒光X射線(xiàn)的強度與相應元素的含量有一定的關(guān)系，據此，可以進(jìn)行元素定量分析。
X射線(xiàn)探測器將樣品元素的X射線(xiàn)的特征譜線(xiàn)的光信號轉換成易于測量的電信號來(lái)得到待測元素的特征信息。
Olympus手持貴金屬分析儀的優(yōu)勢主要有以下三點(diǎn)：
1、現場(chǎng)檢測，快速無(wú)損，無(wú)需送抵實(shí)驗室，大大提高效率
2、分析速度較臺式光譜儀快很多，僅幾秒鐘就可顯示分析結果
3、體積小，重量輕，攜帶方便
手持式光譜儀的應用非常廣泛，涉及：電力、石化、考古、金屬加工、壓力容器、廢舊物資回收、航空航天、地質(zhì)勘探、礦山測繪、開(kāi)采、礦石分選、礦產(chǎn)貿易、金屬冶煉、環(huán)境監測、土壤監測、玩具、服裝、鞋帽、電子產(chǎn)品等眾多領(lǐng)域。
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