X射線(xiàn)熒光光譜儀的發(fā)展史

　　X射線(xiàn)熒光光譜儀的發(fā)展歷史，最早可以追溯到1895年，德國物理學(xué)家威廉·康拉德·倫琴于這一年11月發(fā)現并識別出了X射線(xiàn)，因此，X射線(xiàn)在許多國家也被稱(chēng)之為倫琴射線(xiàn)。
 

　　隨后在1909年，英國物理學(xué)家查爾斯·格洛弗·巴克拉發(fā)現了從樣本中輻射出來(lái)的X射線(xiàn)與樣品原子量之間的聯(lián)系;四年之后，也即在1913年，同樣來(lái)自英國的物理學(xué)家亨利·莫斯萊發(fā)現了一系列元素的標識譜線(xiàn)(特征譜線(xiàn))與該元素的原子序數存在一定的關(guān)系。
 

　　這些發(fā)現都為人們后期根據原子序數而不是根據原子量大小提煉元素周期表奠定了基礎，同樣也為人們建立起第一個(gè)X射線(xiàn)熒光光譜儀(XRF)打下了堅實(shí)的理論基礎。然而，直到1948年，Herbert Friedman 和Laverne Stanfield Birks才建立起一臺X射線(xiàn)熒光光譜儀，這為后續光譜儀的商業(yè)化使用開(kāi)辟了道路。
 

　　通常把X射線(xiàn)照射在物質(zhì)上而產(chǎn)生的次級X射線(xiàn)叫做X射線(xiàn)熒光(X-Ray Fluorescence)，而把用來(lái)照射的X射線(xiàn)稱(chēng)為原級X射線(xiàn)，所以X射線(xiàn)熒光光譜儀仍然屬于X射線(xiàn)范疇。
 

　　一臺典型的X射線(xiàn)熒光光譜儀主要由激發(fā)源(X射線(xiàn)管)和探測系統構成。X射線(xiàn)管主要負責產(chǎn)生入射X射線(xiàn)(一次X射線(xiàn))，隨后該射線(xiàn)對被測樣品進(jìn)行激發(fā)，受激發(fā)的樣品中的每一種元素在被激發(fā)后會(huì )放射出二次X射線(xiàn)，但樣品中元素種類(lèi)的不同以及它們吸收外部X射線(xiàn)能量的多少都會(huì )影響到它們發(fā)射出的二次X射線(xiàn)的輻射能量大小(類(lèi)似于可見(jiàn)光的顏色)，不同類(lèi)型的元素都會(huì )發(fā)出不同的能量或者顏色，因此不同的元素所放射出的二次X射線(xiàn)都具有特定的能量特性或波長(cháng)特性。探測系統測量這些放射出來(lái)的二次X射線(xiàn)的能量及數量信息，隨后儀器軟件將該探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類(lèi)及含量等信息。
 

　　值得一提的是，X射線(xiàn)熒光光譜儀分析技術(shù)是一種非侵入式、能夠對不同材料中的化學(xué)組成實(shí)現快速分析的無(wú)損檢測技術(shù)。這些特性使得該分析技術(shù)在許多方面都更加實(shí)用且更具優(yōu)勢。其主要應用范圍包括：金屬合金材料的可靠性鑒別(PMI)、危險品檢測、材料驗證以及司法科學(xué)等方面。
 

　　近年來(lái)，X射線(xiàn)熒光光譜儀分析技術(shù)的進(jìn)步主要體現在儀器成本的降低和體積尺寸的減小，這些進(jìn)步均有效的擴大了XRF的使用范圍。
 

　　68年后，一種新型的X射線(xiàn)熒光技術(shù)誕生
 

　　第一個(gè)受益于這種新型X射線(xiàn)熒光技術(shù)的無(wú)疑是制造業(yè)、機械加工、金屬加工、廢品回收以及鋼鐵回收等行業(yè)中的質(zhì)量管理部門(mén)，對于這幾個(gè)行業(yè)，幾乎所有人都會(huì )非常關(guān)心他們產(chǎn)品的質(zhì)量問(wèn)題。
 

　　此外，一些先前因為成本高昂而從未考慮過(guò)使用X射線(xiàn)光譜分析技術(shù)的領(lǐng)域也能受益于此并開(kāi)始使用XRF，包括航空航天、汽車(chē)和醫療儀器等行業(yè)。