鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節,是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的必要手段。為使產(chǎn)品國際化,我國出口商品和涉外項目中,對鍍層厚度有了明確要求。
使用儀器時(shí)應當遵守的規定:
a 基體金屬特性
對于磁性方法,標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對于渦流方法,標準片基體金屬的電性質(zhì),應當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
b 基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度,如果沒(méi)有,可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準。
c 邊緣效應
不應在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內轉角等處進(jìn)行測量。
d 曲率
不應在試件的彎曲表面上測量。
e 讀數次數
通常由于儀器的每次讀數并不*相同,因此必須在每一測量面積內取幾個(gè)讀數。覆蓋層厚度的局部差異,也要求在任一給定的面積內進(jìn)行多次測量,表面粗造時(shí)更應如此。
f 表面清潔度
測量前,應清除表面上的任何附著(zhù)物質(zhì),如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等,但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)