看完本篇你就知道rohs環(huán)保測試儀的分析原理了

 

　　rohs環(huán)保測試儀就是X射線(xiàn)熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線(xiàn)熒光光譜儀的分析原理。X射線(xiàn)熒光光譜儀通?？煞譃閮纱箢?lèi)，波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀(EDXRF)，波長(cháng)色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測角儀、探測器等，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測器和相關(guān)電子與控制部件，相對簡(jiǎn)單。
 

　　波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線(xiàn)，根據Bragg定律，通過(guò)測定角度，即可獲得待測元素的譜線(xiàn)波長(cháng):
 

　　nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
 

　　式中 ，λ為分析譜線(xiàn)波長(cháng);d為晶體的晶格間距;θ為衍射角;n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線(xiàn)的衍射角，利用上式可以計算相應被分析元素的波長(cháng)，從而獲得待測元素的特征信息。
 

　　能量色散射線(xiàn)熒光光譜儀則采用能量探測器，通過(guò)測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線(xiàn)能量:
 

　　Q=kE
 

　　式中，K為入射射線(xiàn)的光子能量;Q為探測器產(chǎn)生的相應電荷量;k為不同類(lèi)型能量探測器的響應參數。電荷量與入射射線(xiàn)能量成正比，故通過(guò)測定電荷量可得到待測元素的特征信息。
 

　　待測元素的特征譜線(xiàn)需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規采用的激發(fā)源主要有射線(xiàn)光管和同位素激發(fā)源等。
 

　　為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)，并對獲得的強度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數據處理。